光纖式非接觸式位移計(jì)PM-E測(cè)量原理分析
PM-E是一種通過(guò)光纖將光照射到被測(cè)物體并檢測(cè)反射光,從而可以輕松地以非接觸方式測(cè)量物體位移的裝置。被測(cè)物體的反射光量隨被測(cè)物體與光纖探頭端面的距離(間隙)的不同而不同,如下圖所示。此時(shí)反射光相對(duì)于圖中?(前坡)和?(后坡)區(qū)域的間隙幾乎呈線性變化,因此這些區(qū)域被用于位移測(cè)量。
由于一個(gè)單元具有兩個(gè)位移檢測(cè)特性,您可以在需要高分辨率的測(cè)量中使用前斜率,在需要寬測(cè)量范圍的測(cè)量中使用后斜率。此外,?(光峰位置)對(duì)位移的敏感度低,因此可用于檢測(cè)被測(cè)物的表面狀況和缺陷。
?完quan非接觸式,可廣泛用于測(cè)量振動(dòng)、位移、表面狀態(tài)等。
?抗電磁干擾,可進(jìn)行微點(diǎn)測(cè)量
?因?yàn)榍靶泵婧秃笮泵娑伎梢允褂?,所以可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)高靈敏度和寬范圍。
?維護(hù)簡(jiǎn)單快捷,費(fèi)用低
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