熱像儀 TSI 與傳統(tǒng)無損檢測設備對比分析
發(fā)布日期:2024-12-16 瀏覽次數(shù):37
熱像儀 TSI 與傳統(tǒng)無損檢測設備對比分析
提高能源效率是節(jié)能減排的重要主題。該裝置著眼于電子設備的功耗問題,通過可視化設備內(nèi)部的熱特性并將其轉(zhuǎn)換為相對數(shù)值,可以評估界面的熱擴散率。此外,金剛石和 DLC 因其高導熱性而備受關注,可節(jié)省能源,但評估其熱擴散率極其重要,因為熱擴散率可使熱量從其界面逸出。此外,據(jù)說這些材料之間界面的粘附力會影響性能。該裝置旨在利用熱量來評估界面的粘附力。
特征
激光加熱功能
微距攝影光學系統(tǒng)(分辨率約20μm)
高性能紅外相機(7.5μm - 13.5μm)
降噪技術
主要規(guī)格
| TSI-2 |
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基本性能 | 測量目標 | 樣品缺陷、異質(zhì)性、紅外輻射率、簡單溫度、熱性能 |
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輸出數(shù)據(jù) | 頻率、距離、幅度、相位、亮度、圖像數(shù)據(jù) |
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分析模式 | 點/面分析、相位分析 |
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其他配件 | 溫度調(diào)節(jié)加熱器、控制/分析軟件、PC |
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測量環(huán)境 | 溫度 | 室溫~250[℃] |
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測量頻率 | 0.1~10[赫茲] |
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紅外攝像機 | 元件數(shù)量 | 336×256 |
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元件類型 | Vox 微測輻射熱計 |
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像素大小 | 17[微米] |
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觀測波段 | 7.5~13.5[μm] |
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幀率 | 30[赫茲] |
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解決 | 約30[μm] |
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半導體激光器(連續(xù)波) | 波長 | 808[納米] |
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最大輸出 | 5[寬] |
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正弦調(diào)制 | 0.1~30[赫茲] |
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舞臺活動范圍 | 水平(XY軸)方向 | ±15[毫米] |
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垂直(Z軸)方向 | +50[毫米] |
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電源 | AC100-240[V]、10-5[A]、50/60[Hz] |
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裝置本體 | 外形尺寸 | 寬552 × 深602 × 高657 [毫米] |
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重量 | 76.5[公斤] |
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激光安全標準 | 1 類,IEC/EN 60825-1:2007 |
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與傳統(tǒng)無損檢測設備對比
| TSI-2 | X射線探傷 | 超聲波顯微鏡 |
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你如何獲得對比度? | ○熱導率的差異(可以進行未有的觀察) | ○X射線透過量 | ○超聲波反射或速度的差異 |
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來樣加工 | ◎不需要 | ◎不需要 | △需要浸沒 |
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解決 | △約20μm | ◎1μm | ○1μm(但與觀察深度存在權衡關系) |
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穿透力 | △ 適合近地表觀察。 | ◎貴。 CT方法可用。 (金屬很難穿透) | △隨頻率而變化。分辨率也會改變。 |
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觀察范圍 | ◎更換方便。覆蓋范圍廣 | △出于安全考慮,觀察范圍受到限制。 | △安裝在水族箱內(nèi)。需要掃描。觀察范圍有限。 |
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觀察時間 | ◎?qū)崟r | ◎?qū)崟r | △需掃描 |
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