GH-1系列穩(wěn)態(tài)熱導率測量儀的用途及特點
聚合物和玻璃的熱導率評估。
本裝置為符合美國標準ASTM E1530的熱電流計型穩(wěn)態(tài)熱導率測量裝置。
在 50 至 280°C 的溫度范圍內測量相對低導熱材料的設備。
評估半導體封裝材料的熱導率。
玻璃基板的熱導率評價。
高分子材料熱導率的評價。
陶瓷材料熱導率的評價。
低熱導率金屬的熱導率評價。
熱電材料熱傳導的測量。
設計用于通過保護加熱器限度地減少平面方向的熱損失
操作簡單,安全功能齊全
全自動測量
通過將測量溫度輸入個人計算機,可以從 50°C 到 300°C 進行自動測量。
精密測量
使用SUS304、Pyrex、Vespel等預先獲取并注冊校準數(shù)據(jù),并根據(jù)這些校準數(shù)據(jù)測量未知樣品的熱導率。
豐富的監(jiān)控
顯示 測量過程中可以顯示樣品系統(tǒng)各部分的溫度和熱導率(參考值)。
也可以進行薄膜測量(可選) 通過
堆疊方式,可以測量導熱系數(shù)相對較低的薄板和薄膜狀樣品的導熱系數(shù)。
©2024 秋山科技(東莞)有限公司(javanet.com.cn) 版權所有 總訪問量:324900 sitemap.xml
地址:東莞市塘廈鎮(zhèn)塘廈大道298號603室 技術支持:環(huán)保在線 管理登陸 備案號:粵ICP備20060244號